[发明专利]用于校准浅地层剖面仪垂直分辨力的地层剖面标准样品、声速即时测量系统及方法在审
| 申请号： | 202010565085.3 | 申请日： | 2020-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN111913234A | 公开（公告）日： | 2020-11-10 |
| 发明（设计）人： | 佟昊阳;张军;赵涵 | 申请（专利权）人： | 中国船舶重工集团公司第七一五研究所 |
| 主分类号： | G01V13/00 | 分类号： | G01V13/00;G01H5/00 |
| 代理公司： | 杭州九洲专利事务所有限公司 33101 | 代理人： | 陈继亮 |
| 地址： | 311499 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于校准浅地层剖面仪垂直分辨力的地层剖面标准样品、声速即时测量系统及方法，该地层剖面标准样品主要包括水砂混合物样品、固体岩石样品和围栏，其中水砂混合物和固体岩石从上而下放置在围栏内，围栏材质为有机玻璃；本发明同时提供了一种配套地层剖面标准样品的声速即时测量系统，保证校准精度。本发明的有益效果为：通过对样品原料的选择、标准样品几何尺寸的溯源，为浅地层剖面仪纵向分辨能力的校准提供了稳定、精确的量化标准，可以为浅地层剖面探测技术的发展提供校准服务，提高相关技术的研究效率，促进行业发展，为我国海洋开发与海洋工程建设提供保障。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 校准 地层 剖面 垂直 分辨力 标准 样品 声速 即时 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
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