[发明专利]x射线背散射检测器在审

专利信息
申请号: 202010495268.2 申请日: 2020-06-03
公开(公告)号: CN112394077A 公开(公告)日: 2021-02-23
发明(设计)人: M·萨法伊 申请(专利权)人: 波音公司
主分类号: G01N23/203 分类号: G01N23/203
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 韩中领;王小东
地址: 美国伊*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本文公开了x射线背散射检测器,具体地公开了在x射线背散射系统中使用的闪烁体。该闪烁体包括无机闪烁体部,该无机闪烁体部由无机闪烁材料制成并包括一个或更多个无机材料元件。所述一个或更多个无机材料元件中的各个无机材料元件包括外表面和与外表面相反的内表面。外表面被配置成靠近要扫描的物体,使得外表面被配置成接收被物体散射的x射线光子。闪烁体还包括有机闪烁体部,该有机闪烁体部由有机闪烁材料制成的并且包括前表面。前表面的至少一部分邻接一个或更多个无机材料元件中的至少一个无机材料元件的内表面。
搜索关键词: 射线 散射 检测器
【主权项】:
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  • 提供了一种检测菊池衍射图的装置。该装置包括:电子柱,其适于在使用中提供指向样品的电子束,所述电子束具有在2keV至50keV范围内的能量,以及;成像探测器,用于接收和计数由于电子束与样品的相互作用而来自样品的电子,探测器包括像素阵列并且对于每个像素具有每秒至少2000个电子的计数率能力,其中:成像探测器适于提供接收电子的电子能量滤波,以便对代表所述衍射图样的接收电子进行计数,并且粒子探测器在电子朝向探测器的有源区进入的表面上具有惰性层,其中惰性层分散20keV入射电子的检测能量,该20keV入射电子具有小于3.2keV的半峰全宽的能散。还提供了一种检测菊池衍射图的方法。
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