[发明专利]一种光模块的高低温测试系统在审
| 申请号： | 202010469109.5 | 申请日： | 2020-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN111721440A | 公开（公告）日： | 2020-09-29 |
| 发明（设计）人： | 陈绍望;鲁小义;马威 | 申请（专利权）人： | 武汉华工正源光子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01K13/00 | 分类号： | G01K13/00;G01K1/14 |
| 代理公司： | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人： | 胡建文 |
| 地址： | 430223 湖北省武汉市东湖高*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及光通讯模块高低温测试技术领域，提供了一种光模块的高低温测试系统，包括基座、供待测光模块安置的产品待测区、用于为所述待测光模块提供高低测试温度的测试组件以及用于驱使所述测试组件靠近或远离所述产品待测区的驱动机构，产品待测区设于所述基座上，所述测试组件具有用于罩盖所述产品待测区以将所述待测光模块封闭在所述基座上的罩体，所述罩体具有连接外部温度控制器的气出口。本发明测试组件的运动位置相对测试板和光模块固定，无需人工进行对位，不存在位置偏差风险，降低生产风险，而且机械式的运动，也提高了工作效率；气体导流块的设计，将冷热气体直接导向待测光模块，可以有效提高待测模块升降温的速率，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 模块 低温 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉华工正源光子技术有限公司，未经武汉华工正源光子技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010469109.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
