[发明专利]一种光学探测器的测试装置在审
| 申请号： | 202010466680.1 | 申请日： | 2020-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN111609877A | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 宋均希 | 申请（专利权）人： | 上海三达电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00;G01D11/30 |
| 代理公司： | 北京中索知识产权代理有限公司 11640 | 代理人： | 高杨 |
| 地址： | 200030 上海市徐*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光学探测器的测试装置，包括安装箱、安装板和移动板，所述安装箱顶部两侧均设有固定件，所述安装箱内部设有带动固定件相向移动的移动机构，所述安装箱的侧面焊接有安装板，所述安装板的中部水平设有条形槽，所述安装板表面还设有弧形凹槽，所述条形槽内部滑动连接有移动柱，所述移动柱的顶部焊接有移动板，所述移动板的上方设有光发生器，所述移动板和光发生器之间设有改变光发生器角度的角度调节机构。本发明可以检测光学探测器对不同距离光源、对水平面不同角度光源、对竖直面不同角度光源的灵敏程度，测试样本更多，测试结果更准确，光学探测器的安装位置固定，使检测结果不易出现误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 探测器 测试 装置 | ||
【主权项】：
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