[发明专利]用于AOI缺陷检测的缺陷提取方法有效
| 申请号： | 202010438593.5 | 申请日： | 2020-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN111337512B | 公开（公告）日： | 2020-09-08 |
| 发明（设计）人： | 王四平;张孟;彭其栋 | 申请（专利权）人： | 深圳新视智科技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G06T7/00 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人： | 彭涛 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市罗湖区莲*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及机器视觉技术领域，特别涉及用于AOI缺陷检测的缺陷提取方法，各自工位的信息处理模块将局部有效特征信息集合传输至各自工位的缺陷定义模块，各自工位的缺陷定义模块自定义多个缺陷公式，将局部有效特征信息集合内的相应特征数值代入每一缺陷公式内，符合缺陷公式的结果定义为各自工位的新缺陷，形成各自工位的新缺陷集合，两两工位之间的新缺陷集合相互映射，把满足映射关系的缺陷组合定义为映射关系缺陷，形成映射关系缺陷集合。与现有技术相比，本发明的用于AOI缺陷检测的缺陷提取方法交互友好，可用于检测大部分材料，适用范围广，支持缺陷分类较多、缺陷特征比较模糊的缺陷检测，有效提高缺陷检测的准确性和正确性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 aoi 缺陷 检测 提取 方法 | ||
【主权项】：
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