[发明专利]手机后盖真空镀膜纳米膜层绝缘性能检测装置在审
| 申请号： | 202010315487.8 | 申请日： | 2020-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN111398754A | 公开（公告）日： | 2020-07-10 |
| 发明（设计）人： | 王建峰 | 申请（专利权）人： | 深圳市嘉德真空光电有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12;B65G15/20;B23K26/362;B23K26/70 |
| 代理公司： | 广州市南锋专利事务所有限公司 44228 | 代理人： | 郑学伟;叶利军 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开手机后盖真空镀膜纳米膜层绝缘性能检测装置；包括主控制器、用以输送真空镀膜手机后盖来料的来料输送装置、用以感应真空镀膜手机后盖来料并对真空镀膜手机后盖来料进行定位的来料感应及定位装置、用以测量定位好的真空镀膜手机后盖来料纳米膜层电阻值的电阻自动测量装置、用以对绝缘性能检测合格的真空镀膜手机后盖来料边缘打产品标识码的激光打码装置及用以对绝缘性能检测合格并打有产品标识码的真空镀膜手机后盖来料及绝缘性能检测不合格的真空镀膜手机后盖来料背面进行覆膜的来料背面覆膜装置；效果：本发明可自动测量真空镀膜手机后盖来料电阻值以评估其绝缘性能，使得节省人力，降低劳动成本。 | ||
| 搜索关键词： | 手机 真空镀膜 纳米 绝缘 性能 检测 装置 | ||
【主权项】：
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