[发明专利]一种平板孔型像质计的制备方法在审
| 申请号： | 202010197839.4 | 申请日： | 2020-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN111307839A | 公开（公告）日： | 2020-06-19 |
| 发明（设计）人： | 陈小君;陈能;王文荣;肖燕萍;谢胜芬;刘珍珍;吴紫君;蔡金兰 | 申请（专利权）人： | 广东省医疗器械质量监督检验所 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N1/28 |
| 代理公司： | 广州润禾知识产权代理事务所(普通合伙) 44446 | 代理人： | 张柳;杨钊霞 |
| 地址： | 510663 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及医疗器械领域，尤其涉及一种平板孔型像质计的制备方法，所述制备方法包括以下步骤：S1、镶嵌处理：对金属体进行镶嵌处理；S2、切割处理：对镶嵌处理后的金属体进行切割处理，得到厚度值为125μm的金属厚度片，其厚度值公差范围为0～15μm；S3、打孔处理：采用打孔工具在厚度片上钻取两个大小相同的孔，得到孔径为125μm的平板孔型像质计，其孔径公差范围为0～15μm；S4、封装处理：将平板孔型像质计封装固定在对X射线弱吸收的材料中。本发明提供一种平板孔型像质计的制备方法，符合射线照相检测中对像质计的要求，工艺简单易实现，生产高效且成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 平板 孔型 像质计 制备 方法 | ||
【主权项】：
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