[发明专利]一种变温光谱测试装置在审
| 申请号： | 202010161993.6 | 申请日： | 2020-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN111289483A | 公开（公告）日： | 2020-06-16 |
| 发明（设计）人： | 王伟;邹军;石明明;王金瑞 | 申请（专利权）人： | 上海应用技术大学;上海映透能源科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/25;G05D23/20 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 贺姿;胡晶 |
| 地址： | 200235 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种变温光谱测试装置，包括操作系统、变温系统、测量系统、冷却系统及分析系统，其中，操作系统用于设定测试温度，并通过数据传输线将测试温度传输至变温系统内的温控装置，温控装置根据测试温度控制变温载物台的温度，待放置有测试样品的变温载物台温度稳定后，闭合积分球进行测量，探头将接收到的测试样品发射的光及激发光源激发样品产生的光信号传输至分析系统，得到测试样品在不同温度下的光学性能参数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱 测试 装置 | ||
【主权项】：
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