[发明专利]一种高分辨颗粒检测装置有效

专利信息
申请号: 202010150475.4 申请日: 2020-03-03
公开(公告)号: CN111272771B 公开(公告)日: 2023-03-31
发明(设计)人: 罗先刚;赵承伟;王长涛;刘利芹;罗云飞 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01N21/94 分类号: G01N21/94;G01N21/88
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种高分辨颗粒检测装置,属于颗粒检测的创新技术领域。该装置包括用于隔离人员和空气等扰动与污染的隔离罩;用于支撑和定位连接各分系统的支架;用于承载测试样片、调节样片与成像系统共轴、检测区域定位和大面积检测步进拼接的工件台系统;用于物镜切换、自动聚焦、检测成像的成像系统;用于颗粒检测照明的照明系统;用于控制工件台系统精密定位、控制物镜切换与自动聚焦、图像采集与处理的控制系统。该装置基于暗场成像的原理,通过收集颗粒的散射光进行成像,进而实现获取样片上颗粒的尺寸与分布信息的能力。
搜索关键词: 一种 分辨 颗粒 检测 装置
【主权项】:
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