[发明专利]一种高分辨颗粒检测装置有效
申请号: | 202010150475.4 | 申请日: | 2020-03-03 |
公开(公告)号: | CN111272771B | 公开(公告)日: | 2023-03-31 |
发明(设计)人: | 罗先刚;赵承伟;王长涛;刘利芹;罗云飞 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G01N21/94 | 分类号: | G01N21/94;G01N21/88 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种高分辨颗粒检测装置,属于颗粒检测的创新技术领域。该装置包括用于隔离人员和空气等扰动与污染的隔离罩;用于支撑和定位连接各分系统的支架;用于承载测试样片、调节样片与成像系统共轴、检测区域定位和大面积检测步进拼接的工件台系统;用于物镜切换、自动聚焦、检测成像的成像系统;用于颗粒检测照明的照明系统;用于控制工件台系统精密定位、控制物镜切换与自动聚焦、图像采集与处理的控制系统。该装置基于暗场成像的原理,通过收集颗粒的散射光进行成像,进而实现获取样片上颗粒的尺寸与分布信息的能力。 | ||
搜索关键词: | 一种 分辨 颗粒 检测 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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