[发明专利]计算机断层扫描的散射校正方法、装置和存储介质在审
| 申请号： | 202010146050.6 | 申请日： | 2020-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN113362404A | 公开（公告）日： | 2021-09-07 |
| 发明（设计）人： | 汪洋;张国庆 | 申请（专利权）人： | 上海西门子医疗器械有限公司 |
| 主分类号： | G06T11/00 | 分类号： | G06T11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201318 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明实施方式公开了一种计算机断层扫描的散射校正方法、装置和存储介质。方法包括：确定单个投影中X射线穿过扫描目标后的衰减值的像素密度及该衰减值的像素面积密度；基于所述像素密度及所述像素面积密度确定该单个投影的二阶校正系数；基于该二阶校正系数，对该单个投影中每个像素的散射校正值做二阶校正；基于所述每个像素的二阶校正后的散射校正值，对该单个投影中每个像素检测到的信号强度值分别执行校正。本发明实施方式可以不再布置防散射栅(ASG)，并由此节约成本。而且，当扫描目标偏离中心时，本发明实施方式可以实现良好的散射校正。 | ||
| 搜索关键词： | 计算机 断层 扫描 散射 校正 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
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