[发明专利]X射线装置在审

专利信息
申请号: 201980054925.5 申请日: 2019-06-25
公开(公告)号: CN112602381A 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 浦田朋晃 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: H05G1/26 分类号: H05G1/26;A61B6/00;H05G1/34
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 管理装置(70)具备:消耗程度检测部(72),其根据对发射器施加的电压、电流或通电时间来检测发射器的消耗程度;附着量估计部(73),其基于发射器的消耗程度、以及存储在存储部(71)中的发射器的消耗程度与导电体附着于外壳的附着量的关系,来估计导电体附着于外壳的附着量;以及沿面放电估计部(74),其基于发射器的消耗程度、存储在存储部(71)中的发射器的消耗程度与导电体附着于外壳的附着量的关系、以及存储在存储部(71)中的导电体附着于外壳的附着量与针对外壳的沿面放电的概率的关系,来估计发生沿面放电的概率。
搜索关键词: 射线 装置
【主权项】:
暂无信息
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