[实用新型]一种行扫式探测器自动化测试装置有效
申请号: | 201920698551.8 | 申请日: | 2019-05-16 |
公开(公告)号: | CN210198562U | 公开(公告)日: | 2020-03-27 |
发明(设计)人: | 周东平 | 申请(专利权)人: | 合肥厚朴传感科技有限公司 |
主分类号: | G01J1/16 | 分类号: | G01J1/16;G01J1/04;H05K7/20 |
代理公司: | 北京艾皮专利代理有限公司 11777 | 代理人: | 丁艳侠 |
地址: | 230088 安徽省合肥市高新区*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本实用新型涉及传感技术领域,公开了一种行扫式探测器自动化测试装置,包括框架、探测器本体和显示装置;框架的内底部上表面中间位置固定设置有电源,电源的上方固定安装有第一支撑板,第一支撑板上呈矩形排布安装有若干组插座,第一支撑板的上方固定安装有第二支撑板,第二支撑板上对应插座的上方放置有若干组探测器本体,探测器本体的底端通过探针插入到插座上,探测器本体的上方设置有单片机,单片机的上下两侧设置有若干组接线头,探测器本体的上侧通过导线电性连接到下侧的接线头上,单片机的上方通过框架固定安装有显示装置,显示装置包括电子显示屏和电子表。本实用新型的优点是:测试速度快,精度高,适用于批量测试。 | ||
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【主权项】:
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