[实用新型]一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置有效

专利信息
申请号: 201920689974.3 申请日: 2019-05-15
公开(公告)号: CN210221750U 公开(公告)日: 2020-03-31
发明(设计)人: 张宏阳;王景丽;蔡静;王健;张重远 申请(专利权)人: 中国科学院金属研究所
主分类号: G01N3/62 分类号: G01N3/62
代理公司: 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 代理人: 张晨
地址: 110015 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 实用新型公开了一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置,包括尺身、定位卡脚、V型缺口定位块以及关于尺身中心线成对对称设置的制动螺钉、游标、尺框、主尺、活动卡脚、微动螺母和微动装置,所述定位卡脚设于尺身中心线位置正上方,所述V型缺口定位块设于尺身中心线位置正下方,所述定位卡脚和V型缺口定位块中心线与尺身中心线重合,两套主尺和游标的刻度线关于尺身中心线对称设置,且零刻度线靠近尺身中心线一侧,所述对中测量装置形成关于尺身中心线为轴的对称结构。本实用新型具有操作简便,能够精准定位缺口的对称面为测量距离的起点即零点,可同时测得缺口对称面与试样端面的距离,减少了常规测量过程中的无关变量,省时、省力。
搜索关键词: 一种 试验 冲击 试样 缺口 测量 装置
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