[实用新型]一种用于ZnS元件的新型盘检装置有效

专利信息
申请号: 201920425456.0 申请日: 2019-03-29
公开(公告)号: CN210136186U 公开(公告)日: 2020-03-10
发明(设计)人: 陈兴建;顾元元 申请(专利权)人: 成都贝瑞光电科技股份有限公司
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95;G01N21/01
代理公司: 成都慕川专利代理事务所(普通合伙) 51278 代理人: 谢芳
地址: 610041 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种用于ZnS元件的新型盘检装置,涉及光电技术领域。包括产品检验台、光源装置和显微装置。显微装置设于产品检验台上方并朝向产品检验台的台面设置,光源装置呈倾斜设置且其光线发射部朝向产品检验台的台面设置。光源装置的光线波长为532nm。其结构简单,检测精度和灵敏度高,操作方便,能够直观、精确地反应元件表面的质量情况,大大提高了盘检过程中的准确度和效率,对划痕和污点的检测效率大大提高,加工效率也同时得到了明显提升。
搜索关键词: 一种 用于 zns 元件 新型 装置
【主权项】:
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