[实用新型]一种集成电路测试连接装置

摘要

本实用新型公开了一种集成电路测试连接装置，包括底板，底板的上表面右端设有第一接触板，第一接触板的右侧面中部设有转接口，底板的上表面左端设有第二接触板，第二接触板的左侧面中部设有插口，插口内插接有转换接头，第二接触板与第一接触板通过导线电连接，底板的上表面设有导线固定机构，导线固定机构的数量为两个且对称分布在底板的上表面左侧和右侧，底板的上表面插接有盒盖，盒盖位于第一接触板和第二接触板之间。本集成电路测试连接装置，使用效果好，可以很好地固定导线，确保导线整齐、避免磨损，增加散热能力，可以更换不同的转换接头，便于测试不同的集成电路，适宜推广使用。

主权项

1.一种集成电路测试连接装置，包括底板（7），其特征在于：所述底板（7）的上表面右端设有第一接触板（4），第一接触板（4）的右侧面中部设有转接口（5），所述底板（7）的上表面左端设有第二接触板（2），第二接触板（2）的左侧面中部设有插口（14），插口（14）内插接有转换接头（1），第二接触板（2）与第一接触板（4）通过导线（9）电连接，所述底板（7）的上表面设有导线固定机构（12），导线固定机构（12）的数量为两个且对称分布在底板（7）的上表面左侧和右侧，所述底板（7）的上表面插接有盒盖（3），盒盖（3）位于第一接触板（4）和第二接触板（2）之间。