[实用新型]一种在精密测长仪中测量高解析面板的标记结构有效
申请号: | 201920104675.9 | 申请日: | 2019-01-22 |
公开(公告)号: | CN209342051U | 公开(公告)日: | 2019-09-03 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 福建华佳彩有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 福州市景弘专利代理事务所(普通合伙) 35219 | 代理人: | 黄以琳;林祥翔 |
地址: | 351100 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本实用新型提供一种在精密测长仪中测量高解析面板的标记结构,包括多个最小标记单元,所述最小标记单元为正方形,多个最小标记单元聚集排列,每一个最小标记单元都至少与一个最小标记单元相邻,相邻的最小标记单元的相邻的边为重合状态,所述最小标记单元的数量为一自然数的平方,多个最小标记单元的行数与该自然数相同,多个最小标记单元的首行数量和末行数量不相同。区别于现有技术,上述技术方案通过对标记结构的改变,使得标记结构在像素点间距较小的时候,精密测长仪都还能自动测量。 | ||
搜索关键词: | 小标记 标记结构 测长仪 精密 高解析 测量 本实用新型 自动测量 像素点 行数 | ||
【主权项】:
1.一种在精密测长仪中测量高解析面板的标记结构,其特征在于:包括多个最小标记单元,所述最小标记单元为正方形,多个最小标记单元聚集排列,每一个最小标记单元都至少与一个最小标记单元相邻,相邻的最小标记单元的相邻的边为重合状态,所述最小标记单元的数量为一自然数的平方,多个最小标记单元的行数与该自然数相同,多个最小标记单元的首行数量和末行数量不相同。
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