[发明专利]基于分色聚焦衍射光学元件的平面光电探测系统在审
申请号: | 201911384036.3 | 申请日: | 2019-12-28 |
公开(公告)号: | CN111045219A | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | 张新;胡铭钰;赵尚男;王灵杰;刘涛 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G02B27/42 | 分类号: | G02B27/42;G02B6/34 |
代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 曹卫良 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种基于分色聚焦衍射光学元件的平面光电探测系统,包括位分色聚焦衍射光学元件、光子集成回路和信息处理模块,所述的光子集成回路由光波导阵列和相位延迟器构成,所述的分色聚焦衍射光学元件获取目标光学信息,对应波段的光束通过位相型聚焦光栅后分成至少两个窄波段光束并聚焦耦合进光波导阵列中,而后通过相位延迟器实现相位调整至两束光满足干涉条件,再将相干光输入到信息处理模块进行图像复原获得高分辨率图像。本发明简化了分块式平面光电成像系统结构,减轻了光子集成回路的集成负担,缩短了波导传输距离,使得光子传输效率和能量利用率得以提升。 | ||
搜索关键词: | 基于 分色 聚焦 衍射 光学 元件 平面 光电 探测 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201911384036.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种铜带的切边生产装置
- 下一篇:一种能够促进接触成骨的纯钛表面处理方法