[发明专利]一种晶振相位噪声测试用适配器及测试系统有效
| 申请号： | 201911334621.2 | 申请日： | 2019-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN110907712B | 公开（公告）日： | 2021-11-23 |
| 发明（设计）人： | 瞿明生 | 申请（专利权）人： | 贵州航天计量测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01R29/26 | 分类号： | G01R29/26 |
| 代理公司： | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人： | 葛鹏 |
| 地址： | 550009 贵州省贵阳市*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种晶振相位噪声测试用适配器及测试系统，该适配器包括：屏蔽腔，用于装载集成有高稳低相噪恒温晶振的印刷电路板；所述屏蔽腔上设有振荡器电源输入接头、频率控制输入接头、恒温控制电源输入接头、射频输出接头，分别与高稳低相噪恒温晶振的振荡器电源端、频率控制端、恒温控制电源端、射频输出端电气连接。本发明提供的技术方案，由于适配器的屏蔽腔上设有频率控制输入接头，而频率控制输入接头与高稳低相噪恒温晶振的频率控制端电气连接，因此，外部的相位噪声测试系统的调谐电压可以通过适配器的频率控制输入接头加到适配器内的高稳低相噪恒温晶振上，从而实现对高稳低相噪恒温晶振输出频率的调节，进而保证相位噪声测试顺利进行。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 相位 噪声 测试 适配器 系统 | ||
【主权项】：
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