[发明专利]ICT测试平台在审
| 申请号： | 201911291737.2 | 申请日： | 2019-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN111175634A | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 赵伟林;梁树彬;郑荣达 | 申请（专利权）人： | 珠海博杰电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 肖宇扬;付静 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市香洲*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种ICT测试平台，包括：ICT检测模块，用于进行ICT检测，所述ICT检测模块内集成有MIC测试单元，用于进行MIC电子元器件进行检测；功能选择模块，用于控制ICT检测模块进行根据检测需要进行相应的ICT功能检测，并采集ICT检测模块的检测结果信息；系统控制模块，用于向功能选择模块发送执行命令，并采集功能选择模块收集到的ICT检测模块检测结果信息；信息传输模块，用于向系统控制模块发送ICT检测命令及采集系统控制模块收集到的ICT检测模块检测结果信息。本发明相在ICT测试平台上集成了，MIC测试单元，用于在ICT测试过程中进行MIC电子元器件进行检测，实现ICT测试平台的MIC测试功能。 | ||
| 搜索关键词： | ict 测试 平台 | ||
【主权项】：
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