[发明专利]一种大规模染色阵列性能检测评价方法在审
| 申请号： | 201911147107.8 | 申请日： | 2019-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN111048156A | 公开（公告）日： | 2020-04-21 |
| 发明（设计）人： | 聂曌;田泽;马城城;秦翔;刘晖;张琛 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所 |
| 主分类号： | G16B99/00 | 分类号： | G16B99/00 |
| 代理公司： | 北京清大紫荆知识产权代理有限公司 11718 | 代理人： | 李红 |
| 地址： | 710065 陕西省*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属于计算机图形领域，具体涉及一种大规模染色阵列性能检测评价方法。本方法提出染色阵列总体性能评价、硬件处理性能、软件接口性能、并行处理性能和典型应用处理性能四种维度的性能指标，分别通过染色阵列总体性能评价任务快、硬件处理性能检测任务块、软件接口性能检测任务块、并行处理性能检测任务块和典型应用处理性能检测任务块实现。创造性地提出染色阵列总体性能评价，通过硬件处理性能、软件接口性能、并行处理性能和典型应用处理性能四个维度，来检测评价大规模染色阵列的处理性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 大规模 染色 阵列 性能 检测 评价 方法 | ||
【主权项】：
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