[发明专利]一种基于Lie-Mean的平板外壳缺陷检测方法和系统在审
申请号: | 201911132430.8 | 申请日: | 2019-11-19 |
公开(公告)号: | CN111062417A | 公开(公告)日: | 2020-04-24 |
发明(设计)人: | 徐承俊;朱国宾 | 申请(专利权)人: | 武汉大学 |
主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62;G06T7/00 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 王琪 |
地址: | 430072 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于Lie‑Mean的平板外壳缺陷检测方法和系统,包括如下步骤:获取平板外壳图像并进行图像预处理;将预处理后的图像进行人工标记,标记存在缺陷的平板外壳产品,给出存在缺陷的类别,得到数据样本集;将上述得到的数据样本集映射到李群流形空间中,计算得到每个产品类别的李群内均值;将待检测平板外壳图像进行图像预处理,并将其映射到李群流形空间中,得到测试样本;计算测试样本到上述所得到的各类别李群内均值的测地线距离,将距离最短的李群内均值所属类别判为测试样本的类别。本发明的优点:(1)具有良好的理解性;(2)计算参数少,计算性能优,并且时延小,保证了良好的工作效率的同时提升了分类的准确度。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 lie mean 平板 外壳 缺陷 检测 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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