[发明专利]一种验证微分干扰变化的电路有效
| 申请号： | 201911079882.4 | 申请日： | 2019-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN110941895B | 公开（公告）日： | 2023-06-13 |
| 发明（设计）人： | 李斌;陈洁;卢楠 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G01F1/58 |
| 代理公司： | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人： | 何文欣 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种验证微分干扰变化的电路，属于电磁测量领域。所述的微分验证模型包括：由类似于“变压器效应”叠加到流量信号上的微分信号，主要由励磁线圈等效电感和测量回路等效电感组成；由测量电极接触电阻、电荷传递电阻、双电层电容组成的等效电极阻抗；双输入通道的差分放大器。选择合适的励磁电流方式、频率和验证模型参数后，依次验证微分干扰与所提出的三种因素对干扰的作用效果，弥补了当前相关微分大小验证研究空白的状况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 验证 微分 干扰 变化 电路 | ||
【主权项】：
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