[发明专利]活动引线搭焊电磁传输性能与互联点形态的耦合预测方法有效
| 申请号： | 201910707730.8 | 申请日： | 2019-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN110442960B | 公开（公告）日： | 2020-12-08 |
| 发明（设计）人： | 王从思;刘少义;田军;周澄;刘菁;王志海;于坤鹏;王璐;郑元鹏;连培园;应康 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 姚咏华 |
| 地址： | 710071 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种活动引线搭焊电磁传输性能与互联点形态的耦合预测方法，包括：确定活动引线搭焊互联结构参数与物性参数，建立活动引线搭焊互联形态的参数化表征模型，设计活动引线搭焊互联形态参数与电磁传输性能指标的正交试验，计算活动引线搭焊互联形态参数关联强度、活动引线搭焊互联形态参数显著性，确定活动引线搭焊互联形态关键参数并进行关联区间及最佳参数计算，并基于此预测电磁传输性能是否达标。本方法可指导微波组件设计与优化，提升微波产品研制品质。 | ||
| 搜索关键词： | 活动 引线 电磁 传输 性能 互联点 形态 耦合 预测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种活动引线搭焊电磁传输性能与互联点形态的耦合预测方法，其特征在于，包括下述步骤：(1)根据高频微波组件互联的具体要求，确定微波组件中活动引线搭焊互联的结构参数与物性参数；(2)根据微波组件互联形态，对活动引线搭焊互联形态进行参数化表征；(3)根据确定的微波组件中活动引线搭焊互联结构参数、物性参数及形态参数化表征，建立活动引线搭焊互联结构‑电磁分析模型；(4)根据微波组件中活动引线搭焊互联形态参数与电性能评价指标，确定因素、水平和指标，设计活动引线搭焊互联形态参数与电磁传输性能指标的正交试验；(5)根据正交试验结果极差分析，计算活动引线搭焊互联形态参数关联强度；(6)根据正交试验结果方差分析，计算活动引线搭焊互联形态参数显著性；(7)根据活动引线搭焊互联形态参数关联强度与显著性，确定活动引线搭焊互联形态关键参数并进行关联区间及最佳参数计算；(8)实测活动引线搭焊互联点关键参数值，并根据关联区间及最佳参数快速预测电磁传输性能；若所测的所有关键参数值均在关联区间以内，则性能达标，若有关键参数值不在关联区间内，则性能不达标。
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