[发明专利]半导体器件在审

专利信息
申请号: 201910630460.5 申请日: 2019-07-12
公开(公告)号: CN110718590A 公开(公告)日: 2020-01-21
发明(设计)人: 李峭蒑;金锡勋;李相吉;赵南奎;崔珉姬;李承勋 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/423;H01L29/06
代理公司: 11112 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人: 赵南;张青
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 一种半导体器件,包括:鳍式有源区,其在衬底上沿着与衬底的上表面平行的第一方向延伸;和源极/漏极区,其在延伸到鳍式有源区内的凹陷区内,其中,源极/漏极区包括:第一源极/漏极材料层;在第一源极/漏极材料层上的第二源极/漏极材料层;和在第一源极/漏极材料层和第二源极/漏极材料层之间的界面上的第一掺杂物扩散阻挡层。
搜索关键词: 源极/漏极 材料层 源极/漏极区 衬底 半导体器件 掺杂物扩散 鳍式有源区 方向延伸 上表面 阻挡层 凹陷 鳍式 平行 延伸
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:/n鳍式有源区,其在衬底上沿着与所述衬底的上表面平行的第一方向延伸;和/n源极/漏极区,其在延伸到所述鳍式有源区内的凹陷区内,/n其中,所述源极/漏极区包括:/n第一源极/漏极材料层;/n在所述第一源极/漏极材料层上的第二源极/漏极材料层;和/n在所述第一源极/漏极材料层和所述第二源极/漏极材料层之间的界面上的第一掺杂物扩散阻挡层。/n
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