[发明专利]一种物品质量厚度检测方法及物品质量厚度检测装置有效
| 申请号： | 201910566262.7 | 申请日： | 2019-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN110231005B | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 韩志伟;杨光;覃怀莉;温燕杰;史浩;邝山;梁爱凤;刘燕琴 | 申请（专利权）人： | 江苏同威信达技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B15/02 | 分类号： | G01B15/02;G01N23/02;G01N23/04 |
| 代理公司： | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人： | 陈栋智 |
| 地址： | 213200 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了辐照加工领域内的一种物品质量厚度检测方法及物品质量厚度检测装置，包括以下步骤：步骤1，构建物品质量厚度初始模型，初始模型包括与多种物质一一对应的多条理论曲线，每条所述理论曲线对应于一种物质的低能值与质量厚度理论值的映射关系；步骤2，构建物品质量厚度标准模型，通过校正组件将多条理论曲线校正为多条标准曲线，形成标准模型；步骤3，通过待测物的检测低能值、检测高能值及物质分类模型的映射关系得到待测物的物质种类；能够得到待测物更加准确的质量厚度，更方便辐照加工中辐照剂量、辐照时间等参数的合理配置，提高生产效率，本发明可以用于物品质量厚度的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 物品 质量 厚度 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种物品质量厚度检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，构建物品质量厚度初始模型，初始模型包括与多种物质一一对应的多条理论曲线，每条所述理论曲线对应于一种物质的低能值与质量厚度理论值的映射关系；步骤2，构建物品质量厚度标准模型，通过校正组件将多条理论曲线校正为多条标准曲线，形成标准模型；步骤3，通过待测物的检测低能值、检测高能值及物质分类模型的映射关系得到待测物的物质种类；步骤4，根据所述待测物的物质种类和检测低能值及所述标准模型的映射关系得到所述待测物的质量厚度。
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