[发明专利]一种新的基于磁致伸缩导波的缺陷检测方法

摘要

本发明公开了一种新的基于磁致伸缩导波的缺陷检测方法，首先构建同步挤压小波变换，利用构建的同步挤压小波变换对磁致伸缩导波信号进行缺陷检测，得到缺陷信号的时频图谱，根据时频特征能精确表示出缺陷的时频特征。本发明与基于小波变换和基于短时傅里叶变换的磁致伸缩导波检测方法相比，对磁致伸缩导波信号还具有降噪性能，时频精度高，算法稳定性强，缺陷定位精度高，在基于磁致伸缩导波的缺陷检测中具有非常好的应用前景。

主权项

1.一种新的基于磁致伸缩导波的缺陷检测方法，其特征在于，首先构建同步挤压小波变换，利用构建的同步挤压小波变换对磁致伸缩导波信号进行缺陷检测，得到信号的时频图谱，根据时频特征能精确表示出缺陷的时频特征，具体过程如下：1)对磁致伸缩导波检测到的缺陷信号进行连续小波变换，得到缺陷信号的小波变换的系数；2)对所得的缺陷信号的小波系数进行相变换；其中：a,b∈R且a≠0,a为尺度因子,b称为平移因子，ω_f(a,b)为小波系数变换的相，WT_f(a,b)为小波系数，3)利用可构建出缺陷信号的时间‑尺度域到时间‑频率域的转换；式中：ψ(a_j)为尺度因子不断改变的母小波，ω_m为相变换后得到的相位，(ψ_j)_m为构建映射函数所得到的频率能量；4)同步挤压得到离散表示缺陷信号的同步挤压变换量值：式中：(Δa)_i＝a_i‑a_i‑1，ω_x(a,b)为瞬时频率，ω_l为中心频率，WT_f(a,b)为小波系数；构建缺陷信号的同步挤压小波变换时频图谱，描述缺陷信号时频特征，定位分析。