[发明专利]一种温室作物叶面积指数的计算方法

摘要

本发明涉及温室作物领域，具体涉及一种温室作物叶面积指数的计算方法，将每株作物按高度由上到下分为顶层、中层和底层，每次测量时分别记录各层的叶片总数；选取各层中叶片最大者和叶片最小者分别进行特征长度的测量，分别计算每一层中叶片最大者的叶面积以及叶片最小者的叶面积，从而得出叶面积平均值，将叶面积平均值作为该层叶片特征的代表叶面积；将各层的代表叶面积与该层的叶片总数的乘积值累加起来便可得到单株作物叶面积总量，即可求取作物的叶面积指数，通过本发明得到的叶面积拟合值与实际值拟合非常高，求取的叶面积指数精确度高，测量过程操作简单，仪器使用及人工成本低。

主权项

1.一种温室作物叶面积指数的计算方法，其特征在于：首先，将每株作物按高度由上到下分为3个层次：顶层、中层和底层，每次测量时分别记录各层的叶片总数；然后，选取各层中叶片最大者和叶片最小者分别进行特征长度的测量，分别计算每一层中叶片最大者的叶面积以及叶片最小者的叶面积，从而得出叶面积平均值，将叶面积平均值作为该层叶片特征的代表叶面积；最后，将各层的代表叶面积与该层的叶片总数的乘积值累加起来便可得到单株作物叶面积总量；即作物的叶面积指数可由下式来计算：式中：LAI——作物的叶面积指数；S_o——被测植株所在小区的面积；——代表性作物的单株平均叶面积；m——小区内植株的总个数；其中，即，式中：j——代表性作物序列数；i——被测作物层次序列数；其中，i＝1代表顶层，i＝2代表中层，i＝3代表底层；n_i——作物第i层上叶片的总个数；S_max,ij——第j棵作物第i层上的最大叶面积；S_min,ij——第j棵作物第i层上的最小叶面积。