[发明专利]一种表面异物缺陷快速过滤方法及系统在审
| 申请号： | 201910346205.8 | 申请日： | 2019-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN110108713A | 公开（公告）日： | 2019-08-09 |
| 发明（设计）人： | 陈武;宫强;张胜森;郑增强 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 赵伟 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种表面异物缺陷快速过滤方法及系统，涉及自动化缺陷检测技术领域；该方法包括以下步骤：S1：获取点亮后的背光源组件的第一图像，对所述第一图像进行异物检测；S2：对所述背光源组件的表面异物进行清洁；S3：获取清洁后的背光源组件的第二图像，对所述第二图像进行缺陷检测；S4：将第一图像和第二图像的检测结果进行比对，保留同时存在于第一图像和第二图像上且位置相同的膜内异物缺陷信息，滤除表面异物缺陷信息；本发明通过对第一图像和第二图像的异物检测结果进行比对，能够准确区分表面异物和膜内异物，并快速准确的对表面异物进行过滤，从而节省了人工复判的时间，提高了AOI检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 图像 表面异物 背光源组件 快速过滤 异物检测 比对 缺陷检测技术 检测结果 缺陷检测 缺陷信息 异物缺陷 清洁 异物 点亮 滤除 过滤 自动化 保留 | ||
【主权项】：
1.一种表面异物缺陷快速过滤方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：获取点亮后的背光源组件的第一图像，对所述第一图像进行异物检测；S2：对所述背光源组件的表面异物进行清洁；S3：获取清洁后的背光源组件的第二图像，对所述第二图像进行缺陷检测；S4：将第一图像和第二图像的检测结果进行比对，保留同时存在于第一图像和第二图像上且位置相同的膜内异物缺陷信息，滤除表面异物缺陷信息。
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