[发明专利]一种具有调节功能的接触良好的芯片检测设备

摘要

本发明涉及一种具有调节功能的接触良好的芯片检测设备，包括底座、竖杆、测试器、处理装置和固定机构，处理装置包括调节机构、调节块、紧固机构、缓冲垫、接触机构和四个支柱，调节机构包括支撑组件、转盘、第一电机、驱动轮、驱动杆和若干支杆，接触机构包括动力室、底板、动力组件和若干接触组件，接触组件包括顶针、密封板和接触管，该具有调节功能的接触良好的芯片检测设备通过调节机构可带动底板转动，调节上方的顶针的位置，使得顶针与芯片的引脚正确连接，避免连接出错而导致检测失败，不仅如此，通过接触机构使得各个顶针向上移动穿过缓冲垫的通孔，与芯片的下表面保持良好的接触，便于设备顺利进行检测，从而提高了该设备的实用性。

主权项

1.一种具有调节功能的接触良好的芯片检测设备，其特征在于，包括底座(1)、竖杆(2)、测试器(3)、处理装置和固定机构，所述竖杆(2)固定在底座(1)的上方，所述测试器(3)固定在竖杆(2)上，所述测试器(3)内设有PLC，所述固定机构位于竖杆(2)的顶端的一侧，所述处理装置位于固定机构的下方；所述处理装置包括调节机构、调节块(4)、紧固机构、缓冲垫(13)、接触机构和四个支柱(14)，所述调节块(4)、调节机构和接触机构从下而上依次设置，所述调节块(4)内设有空腔，所述紧固机构包括驱动组件和四个紧固组件，所述紧固组件设置在空腔内，四个紧固组件分别位于调节块(4)的四侧，所述紧固组件包括紧固板(5)、横杆(6)和连接杆(7)，所述驱动组件与连接杆(7)的底端传动连接，所述连接杆(7)的顶端通过横杆(6)与紧固板(5)固定连接，四个支柱(14)分别固定在调节块(4)的上方的四角处，所述缓冲垫(13)通过支柱(14)固定在调节块(4)的上方，所述缓冲垫(13)上设有若干通孔；所述调节机构包括支撑组件、转盘(8)、第一电机(9)、驱动轮(10)、驱动杆(11)和若干支杆(12)，所述第一电机(9)固定在调节块(4)的上方，所述第一电机(9)与PLC电连接，所述第一电机(9)与驱动轮(10)传动连接，所述驱动杆(11)固定在驱动轮(10)的上方，所述转盘(8)通过支撑组件设置在调节块(4)的上方，所述转盘(8)上设有四个条形口，所述条形口周向均匀分布在转盘(8)上，所述驱动杆(11)位于其中一个条形口内，所述支杆(12)的底端和顶端分布与转盘(8)和接触机构固定连接；所述接触机构包括动力室(33)、底板(39)、动力组件和若干接触组件，所述底板(39)固定在支杆(12)的顶端，所述动力室(33)固定在底板(39)的上方，所述动力组件设置在动力室(33)内，所述接触组件的数量与通孔的数量相等，所述接触组件与通孔一一对应，所述接触组件包括顶针(15)、密封板(16)和接触管(17)，所述接触管(17)通过动力组件设置在调节块(4)的上方，所述密封板(16)的外周与接触管(17)的内壁密封连接，所述顶针(15)固定在密封板(16)的上方，所述顶针(15)位于通孔的下方，所述动力室(33)与接触管(17)连通。