[发明专利]基于毫米波的反射变换成像系统及缺陷检测方法

摘要

本发明公开了一种基于毫米波的反射变换成像系统及缺陷检测方法。内环和外环同一水平面同中心安装，弧形支架竖直固定在内环，弧形支架固定设有多个毫米波发射天线，内环带动弧形支架转动；毫米波接收天线阵列固定在内环的正上方。发射天线的发射信号经内环中心的待测物体反射后由接收天线接收并处理得到多张毫米波图像。根据所有图像中同一位置像素点的毫米波强度值建立拟合函数获得最大值对应的投影坐标，将投影坐标的两个坐标值分别转化为灰度值得到两张灰度图像；根据灰度差值阈值对两张图像进行判断，从而得到能够反映物体表面和内部的缺陷分布的成像结果。本发明的装置成本低，成像方法具有计算速度快，自动化程度，精度高的优点。

主权项

1.一种基于毫米波的反射变换成像系统，其特征在于：包括毫米波收发装置和信号处理模块，毫米波收发装置包括毫米波接收天线阵列(1)、毫米波透镜(2)、弧形支架(3)、毫米波发射天线(4)和环形底座，环形底座包括安装在同一水平面的内环(5)和外环(6)，外环(6)固定不动，内环(5)同中心安装在外环(6)的内圈；弧形支架(3)竖直固定在内环(5)的上表面，弧形支架(3)对应的圆心与内环(5)的中心重合，弧形支架(3)的内表面沿周向依次等间隔固定设有多个毫米波发射天线(4)，内环(5)带动弧形支架(3)绕内环(5)的中心转动；毫米波接收天线阵列(1)固定在内环(5)中心的正上方，毫米波接收天线阵列(1)的下端固定连接毫米波透镜(2)，弧形支架(3)的上端低于毫米波透镜(2)并且弧形支架(3)的设置不影响毫米波接收天线阵列(1)接收信号；待测物体(8)放置在内环(5)的中心，每个毫米波发射天线(4)分别作为一个信号源依次向内环(5)的中心区域发射毫米波信号，毫米波信号经待测物体(8)反射形成反射信号后再入射到毫米波透镜(2)，毫米波接收天线阵列(1)接收经毫米波透镜(2)汇聚后的反射信号，毫米波接收天线阵列(1)将反射信号输入到信号处理模块得到毫米波图像。