[发明专利]一种基于辐射测温理论的比色测温仪在审
申请号: | 201910264627.0 | 申请日: | 2019-04-03 |
公开(公告)号: | CN109855742A | 公开(公告)日: | 2019-06-07 |
发明(设计)人: | 于天河;王成栋;谢士宁 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨理工大学 |
主分类号: | G01J5/60 | 分类号: | G01J5/60 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 150080 黑龙江省哈*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 一种基于辐射测温理论的比色测温仪。该测温仪硬件设计的主要部分包括光学部分、硬件电路部分和软件编程部分。其中光学部分选用棱镜分光系统,该系统可避免因使用滤光片而导致辐射能量产生衰减问题;硬件部分采用单片机作为主控芯片,主控芯片选型为STC12C5A60S2,电路设计上主要包含有I/V转换电路、V/V转换电路、程控放大电路、A/D转换电路和光耦合隔离电路等。软件部分主要包含数据采样、数据滤波(排序取中值、算数平均值和滑动滤波)、数据增益、亮温与真温计算和中断程序等,程序编写环境在Keil μVision4集成开发环境下进行。 | ||
搜索关键词: | 比色测温 辐射测温 主控芯片 光耦合隔离电路 程控放大电路 集成开发环境 棱镜分光系统 程序编写 电路设计 辐射能量 软件编程 数据采样 数据滤波 数据增益 衰减问题 硬件电路 硬件设计 中断程序 转换电路 测温仪 单片机 滤光片 滑动 亮温 滤波 选型 算数 排序 | ||
【主权项】:
1.本发明提出了一种基于辐射测温理论的比色测温仪,其特征在于,它包括光学取样器、棱镜组、双色探测器、I/V转换电路模块、V/V转换电路模块、程控放大器电路模块、数据选择电路电路模块、模数转换电路模块、单片机模块;光学取样器输出端与棱镜组模块的输入端连接,棱镜组模块的输出端与双色探测器连接,依次连接有I/V转换电路模块、V/V转换电路模块、程控放大器电路模块、数据选择电路模块、模数转换电路模块、单片机模块,最后连接计算机处理采集到的温度数据。
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