[发明专利]一种界面接触热阻的高精度测试方法有效
申请号: | 201910237000.6 | 申请日: | 2019-03-27 |
公开(公告)号: | CN109839406B | 公开(公告)日: | 2022-08-09 |
发明(设计)人: | 张平;李强;宣益民;马伟;陈孟君;黄勇;史波;杨道国 | 申请(专利权)人: | 桂林电子科技大学 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20 |
代理公司: | 北京智信四方知识产权代理有限公司 11519 | 代理人: | 黄健 |
地址: | 541004 广西*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | 本发明公开了一种界面接触热阻的高精度测试方法,属于测试技术领域,本发明所述的测试方法采用先进的非接触热成像技术进行多个数据点的平均处理,较现有界面温差的界面外推或随机取值选取方法,该测试方法能更为精准的计算得到界面温差,也更进一步提高了采用先进热成像技术进行界面接触热阻的测试精度,可实现高温、瞬态和微纳米尺度的界面接触热阻高精度测试,并且可实现从常温~2700℃温度区间的界面接触热阻测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 界面 接触 高精度 测试 方法 | ||
【主权项】:
1.一种界面接触热阻的高精度测试方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:第一步,将待测两组试样平行设置在加热体和制冷块之间;第二步,开启加热体和制冷块;第三步,采用热成像技术采集待测试样界面上的温度数据,得到温度场图像;第四步,对所述温度场图像进行图像提取,提取后图像需包括待测两组试样的接触界面,再以提取后图像中y方向的像素点为纵坐标或横坐标,以其对应的温度值为相应坐标构建数据拟合曲线,得到待测两组试样的温度梯度曲线和待测两组试样接触界面间的温度曲线,,所述三条曲线具有两个交点,设所述交点之间的差值为界面温差ΔTc,所述的y方向与待测两组试样的设置方向一致;第五步,接触热阻R的计算:
式中,R为接触热阻,ΔTc为界面温差,q为待测试样接触界面处热流量值。
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