[发明专利]一种Seebeck系数的交流测试装置及方法在审
申请号: | 201910048337.2 | 申请日: | 2019-01-18 |
公开(公告)号: | CN109781781A | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
发明(设计)人: | 刘毅;潘启发;刘静;杨瑞龙;朱康伟 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院材料研究所 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20;G01R27/08 |
代理公司: | 成都君合集专利代理事务所(普通合伙) 51228 | 代理人: | 张鸣洁 |
地址: | 621900 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明提供了一种Seebeck系数的交流测试装置包括样品台、夹头、主加热器、副加热器、主探针、副探针、主测温元件、副测温元件,主加热器、主探针、主测温元件均安装在样品台上,副加热器、副探针、副测温元件均安装在夹头上,与主加热器和主测温元件连接的温控仪、与副测温元件连接的锁相放大器、与副加热器连接的交流电源表分别与计算机连接,样品台和夹头夹持样品进行Seebeck系数测量,结构简单。本发明还公开了一种Seebeck系数的交流测试方法,采用输入输出交流信号的方式,测得交流电压的幅值ΔV和温度振荡的幅值ΔT,并通过二者比值计算得到Seebeck系数,温控要求低、测试速度快、无直流信号干扰。 | ||
搜索关键词: | 测温元件 副加热器 主加热器 交流测试装置 样品台 主探针 夹头 探针 计算机连接 锁相放大器 比值计算 交流测试 交流电压 交流电源 输出交流 温度振荡 温控要求 系数测量 直流信号 温控仪 夹持 测试 | ||
【主权项】:
1.一种Seebeck系数的交流测试装置,与计算机(002)连接后对样品(001)进行Seebeck系数测试,所述交流测试装置包括样品室和安装在样品室内的样品台(1)、夹头(2)、主加热器(3)、副加热器(4)、主探针(5)、副探针(6)、主测温元件(7)、副测温元件(8);其特征在于,所述主加热器(3)、所述主探针(5)、所述主测温元件(7)均安装在所述样品台(1)上,所述副加热器(4)、所述副探针(6)、所述副测温元件(8)均安装在所述夹头(2)上;分别位于样品(001)两端的所述样品台(1)、所述夹头(2)与样品(001)接触并固定夹持样品(001)时所述主探针(5)、所述副探针(6)能直接接触样品(001);所述交流测试装置还包括安装在样品室外且分别与计算机(002)连接的温控仪(9)、锁相放大器(10)、交流电源表(11),所述主加热器(3)和所述主测温元件(7)分别与所述温控仪(9)连接,所述副加热器(4)与所述交流电源表(11)连接,所述主探针(5)、所述副探针(6)、所述副测温元件(8)分别与锁相放大器(10)连接;所述主加热器(3)用于给所述样品台(1)加热,使所述样品台(1)达到所需的测量温度;所述副加热器(4)用于给所述夹头(2)施加一个交流加热电流,使所述夹头(2)以电流倍频的频率发生温度振荡,从而使样品(001)与夹头(2)接触处发生温度振荡;所述主探针(5)和所述副探针(6)用于测量样品(001)两端之间的交流电压,以便于得到交流电压的幅值;所述主测温元件(7)用于测量所述样品台(1)的温度;所述副测温元件(8)用于测量所述副探针(6)与样品(001)接触处的温度,以便于得到温度振荡的幅值;所述温控仪(9)用于对所述样品台(1)进行温度控制、温度显示;所述锁相放大器(10)用于测量所述主探针(5)和所述副探针(6)之间的交流电压以及所述副测温元件(8)上的交流电压;所述交流电源表(11)用于对所述副加热器(4)提供一个交流加热电流。
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