[发明专利]检查线在审
| 申请号： | 201880087530.0 | 申请日： | 2018-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN111656170A | 公开（公告）日： | 2020-09-11 |
| 发明（设计）人： | 长谷川功;菅野淳;畠山卓也 | 申请（专利权）人： | 世高株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种包括能够通过简单结构和控制来对检查对象进行检查的检查设备的检查线。该检查线包括：X射线检查设备，包括：照射单元，用于将X射线照射到检查区域内的检查对象，检测单元，用于检测透过检查对象的X射线的强度分布，控制单元，用于基于检测单元所检测到的X射线的强度分布来生成检查对象的X射线透过图像，并且判断检查对象的合格或不合格；以及输送单元，用于使得检查对象通过检查区域，根据利用控制单元的合格/不合格判断的结果来将检查对象分拣为合格检查对象和不合格检查对象，并将不合格检查对象在没有通过检查区域的情况下输送到用于对该检查对象进行作业的作业台上。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 | ||
【主权项】：
暂无信息
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