[发明专利]试样支撑体有效
| 申请号： | 201880060435.1 | 申请日： | 2018-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN111094964B | 公开（公告）日： | 2022-11-04 |
| 发明（设计）人： | 大村孝幸;小谷政弘 | 申请（专利权）人： | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/64 | 分类号： | G01N27/64;H01J49/04 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 杨琦 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 试样支撑体(1)包括基板(2)、电离基板(3)和支撑部(5)。电离基板(3)在第2表面(3b)上具有用于滴落试样的多个测量区域(R)。在电离基板(3)的至少各测量区域(R)形成有在第1表面(3a)和第2表面(3b)开口的多个贯通孔(3c)。至少在第2表面(3b)上的贯通孔(3c)的周缘部设置有导电层(4)。支撑部(5)具有第1支撑部(5b)，该第1支撑部(5b)以从基板(2)与电离基板(3)相对的方向观察划分多个测量区域(R)的方式设置于第1表面(3a)上的各测量区域(R)的周缘部与基板(2)之间。 | ||
| 搜索关键词： | 试样 支撑 | ||
【主权项】：
暂无信息
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