[实用新型]激光器芯片的测试装置有效
| 申请号： | 201822277718.1 | 申请日： | 2018-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN209640453U | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 谢少华;陈开帆;胡靖;黄黎明 | 申请（专利权）人： | 深圳市东飞凌科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 44414 深圳中一联合知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李艳丽<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 518000广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本实用新型提供了一种激光器芯片的测试装置，包括工作台；平移台，可滑动地设置于所述工作台上；承载台，设置于所述平移台上，用于承载激光器芯片并用于与激光器芯片的负极电性接触；探针，用于与激光器芯片的正极电性接触；探针台，设置于所述工作台上，所述探针活动设置于所述探针台上；温度调节机构，设置于所述平移台上并位于承载台的底部；温度控制器，设置于所述工作台上并与所述温度调节机构连接；芯片光接收器，设置于所述工作台上并位于所述承载台的一侧；及测试系统与所述芯片光接收器连接。本实用新型提供的激光器芯片的测试装置，可以实现对单颗激光器芯片的高低温度测试；且可以连续测试不同的激光器芯片，有效提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 激光器芯片 承载台 探针 温度调节机构 本实用新型 平移 测试装置 光接收器 芯片 温度控制器 测试系统 测试效率 负极电性 活动设置 可滑动地 连续测试 温度测试 平移台 探针台 性接触 正极电 工作台 承载 | ||
【主权项】：
1.激光器芯片的测试装置，其特征在于：包括：/n工作台；/n平移台，可滑动地设置于所述工作台上；/n承载台，设置于所述平移台上，用于承载激光器芯片并用于与所述激光器芯片的负极电性接触；/n探针，用于与所述激光器芯片的正极电性接触；/n探针台，设置于所述工作台上，所述探针活动设置于所述探针台上；/n温度调节机构，设置于所述平移台上并位于所述承载台的底部，用于调节所述承载台上的所述激光器芯片的温度；/n温度控制器，设置于所述工作台上并与所述温度调节机构连接，用于控制所述温度调节机构的工作；/n芯片光接收器，设置于所述工作台上并位于所述承载台的一侧，用于接收所述激光器芯片发出的光；以及，/n测试系统，与所述芯片光接收器连接。/n
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