[实用新型]一种0.1Hz频率下介质损耗校准系统有效
| 申请号： | 201821203629.6 | 申请日： | 2018-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN208399668U | 公开（公告）日： | 2019-01-18 |
| 发明（设计）人： | 罗任飞;肖传强 | 申请（专利权）人： | 北京兴迪仪器有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 101500 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型描述一种0.1Hz频率下介质损耗校准系统，该校准系统包括：小容量标准高压电容、高压电阻、普通大容量高压电容、电流放大器。本实用新型主要应用于0.1Hz频率下的介质损耗出厂检验。与现有方法相比，本实用新型的优点是可以用小容量的标准高压电容，替换大容量的标准高压电容，节省检验成本。 | ||
| 搜索关键词： | 本实用新型 标准高压 介质损耗 电容 校准系统 小容量 大容量高压电容 电流放大器 出厂检验 高压电阻 大容量 准系统 替换 检验 应用 | ||
【主权项】：
1.一种0.1Hz频率下介质损耗校准系统，其特征在于，该系统包括：同时包含小容量高压标准电容和普通大容量高压电容,小容量高压标准电容的容量小于2nF；普通大容量高压电容的容量大于50nF；小容量高压标准电容和普通大容量高压电容的高压端接在一起，低压端分开；小容量高压标准电容的低压端接保护地，然后接一个电流放大器后送入测量回路；普通大容量高压电容低压端为单独引出，其电流跨过测量回路后，直接进入待测仪器内部参考地。
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