[实用新型]一种检测TGG晶体内部包络的装置有效
| 申请号： | 201820740456.5 | 申请日： | 2018-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN208283257U | 公开（公告）日： | 2018-12-25 |
| 发明（设计）人： | 罗兴木;蒋莉莉;王昌运;陈伟;陈秋华 | 申请（专利权）人： | 福建福晶科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 350003 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种检测TGG晶体内部包络的装置，该检测TGG晶体内部包络的装置包括底座、图像采集系统、样品台、TGG晶体、光源。本实用新型提供了一种通过可调光强且位于样品的前方、上方、后方三盏光源照射在TGG晶体上，通过图像采集系统观察TGG晶体的包络情况，采用该装置比肉眼直接对着白光观察更方便快捷，且检验人员不易产生疲劳，效率高，更具优势。 | ||
| 搜索关键词： | 内部包络 图像采集系统 本实用新型 种检测 光源照射 晶体的 可调光 样品台 白光 包络 观察 底座 光源 疲劳 检测 检验 | ||
【主权项】：
1.一种检测TGG晶体内部包络的装置，包括底座(1)、图像采集系统(2)、样品台(3)、TGG晶体(4)、光源A、光源B、光源C，其特征是，所述的图像采集系统(2)固定于底座(1)左端，所述的样品台(3)固定于底座(1)右端，所述的TGG晶体(4)置于样品台(3)台面上，所述的光源A、光源B、光源C分别是光源A位于TGG晶体前方，光源B位于TGG晶体上方，光源C位于TGG晶体后方。
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