[实用新型]探头有效
申请号: | 201820645167.7 | 申请日: | 2018-05-02 |
公开(公告)号: | CN208255271U | 公开(公告)日: | 2018-12-18 |
发明(设计)人: | 吴露;张千;王开安;陈健强 | 申请(专利权)人: | 成都安瑞芯科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R1/073;G01R31/00 |
代理公司: | 成都帝鹏知识产权代理事务所(普通合伙) 51265 | 代理人: | 黎照西 |
地址: | 610000 四川省成都市天府新区天*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本实用新型涉及压电材料检测技术领域,尤其涉及一种探头。本实用新型的探头包括绝缘连接的压电芯片和检测探针,所述压电芯片包括相对的两个表面,其中一个表面接地,所述检测探针触碰压电膜样品时可检测压电膜样品的非接地表面和压电芯片的非接地表面上分别产生的电压信号。本实用新型的探头可以基于压电膜的一个表面去进行压电参数的检测,无须破坏压电膜,操作比较简单,检测效率高。 | ||
搜索关键词: | 压电膜 探头 本实用新型 压电芯片 检测探针 非接地 检测技术领域 电压信号 绝缘连接 压电材料 压电参数 接地 可检测 检测 触碰 | ||
【主权项】:
1.一种探头,其用于测试压电膜样品施压后产生的电压信号,所述压电膜样品一表面接地,其特征在于:所述探头包括连接的压电芯片和检测探针,所述压电芯片包括相对的两个表面,其中一个表面接地,当所述检测探针对压电膜样品任一表面施压时,压电膜所产生反作用力通过检测探针传给压电芯片使压电膜样品的非接地表面以及压电芯片的非接地表面上会分别产生电压信号并被探头检测。
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