[发明专利]一种降低MWT组件枝状隐裂的方法在审
| 申请号： | 201811635672.4 | 申请日： | 2018-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN109786504A | 公开（公告）日： | 2019-05-21 |
| 发明（设计）人： | 陈敏;路忠林;吴仕梁;张凤鸣 | 申请（专利权）人： | 江苏日托光伏科技股份有限公司;南京日托光伏新能源有限公司 |
| 主分类号： | H01L31/18 | 分类号： | H01L31/18;H01L31/0224 |
| 代理公司： | 江苏圣典律师事务所 32237 | 代理人： | 贺翔;徐晓鹭 |
| 地址： | 214028 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种降低MWT组件枝状隐裂的方法，所述方法包括以下步骤：步骤一，根据现有信息的记载，通过EL测试机获取的枝状隐裂观察其位置规律；步骤二，确认位置规律和预加热点之间是否存在关联，观察所述枝状隐裂是否在负极点位置或者和预加热点位置重合；步骤三，如果枝状隐裂在负极点位置且与预加热点重合，则调整预加热点的位置使其不打在负极点位置；步骤四，若所述枝状隐裂在预加热点重合则调整预加热的时间使其热穿透力减小。该降低枝状隐裂的方法简单，只需要统计及查看，操作简单。 | ||
| 搜索关键词： | 隐裂 枝状 加热点 负极 点位置 重合 加热点位置 确认位置 测试机 穿透力 预加热 减小 关联 观察 统计 | ||
【主权项】：
1.一种降低MWT组件枝状隐裂的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：步骤一，根据现有信息的记载，通过EL测试机获取的枝状隐裂观察其位置规律；步骤二，确认位置规律和预加热点之间是否存在关联，观察所述枝状隐裂是否在负极点位置或者和预加热点位置重合；步骤三，如果枝状隐裂在负极点位置且与预加热点重合，则调整预加热点的位置使其不打在负极点位置；步骤四，若所述枝状隐裂在预加热点重合则调整预加热的时间使其热穿透力减小。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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