[发明专利]阵列基板

摘要

本申请提供一种阵列基板，阵列基板表面阵列分布有像素单元、公共电极、以及位于所述阵列基板边缘的测试电路；测试电路包括：至少三条并列设置的像素信号测试走线，像素信号测试走线的输入端接入第一测试信号，每条像素信号测试走线的输出端对应连接一种颜色的像素单元，每条像素信号测试走线的中部设置有像素测试焊点；以及公共电极信号测试走线，与像素信号测试走线并列设置，公共电极信号测试走线的输入端接入第二测试信号，公共电极信号测试走线的输出端连接公共电极，公共电极信号测试走线的中部设置有公共电极测试焊点。有益效果：改变阵列基板中公共电极信号测试走线的接线方式，降低了阵列基板产生静电释放较高风险的问题。

主权项

1.一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板表面阵列分布有像素单元、公共电极、以及位于所述阵列基板边缘的测试电路；所述测试电路包括：至少三条并列设置的像素信号测试走线，所述像素信号测试走线的输入端接入第一测试信号，每条所述像素信号测试走线的输出端对应连接一种颜色的像素单元，每条所述像素信号测试走线的中部设置有像素测试焊点；以及，公共电极信号测试走线，与所述像素信号测试走线并列设置，所述公共电极信号测试走线的输入端接入第二测试信号，所述公共电极信号测试走线的输出端连接所述公共电极，所述公共电极信号测试走线的中部设置有公共电极测试焊点。