[发明专利]IC载板测试机整机分步定位精度校验方法及系统有效

专利信息
申请号: 201811605172.6 申请日: 2018-12-26
公开(公告)号: CN111435068B 公开(公告)日: 2022-08-02
发明(设计)人: 姚欣达;高云峰 申请(专利权)人: 深圳麦逊电子有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 深圳市世联合知识产权代理有限公司 44385 代理人: 汪琳琳
地址: 518000 广东省深圳市宝安区沙井街道新沙*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种IC载板测试机整机分步定位精度校验方法及系统,利用IC载板测试机整机分步定位精度校验系统进行,校验系统包括输入输出单元、标定板、图像采集单元及IC载板测试机,方法包括步骤:通过输入输出单元设置校正需要进行的步数;获取每一步的IC载板测试机定位精度误差;计算IC载板测试机测试位任一步中心标志点的标定系数,获取该步数的误差校正表;根据误差校正表,对IC载板测试机测试位定位精度进行补偿校正。实施本发明,有效解决了现有的IC载板测试机分步整机在出厂时没有定位精度及磨损老化后的精度校验问题,可准确快速的解决分步IC载板测试时出现的多种疑难问题。
搜索关键词: ic 测试 整机 分步 定位 精度 校验 方法 系统
【主权项】:
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