[发明专利]存储颗粒控制器的性能测试系统、测试方法及仿真平台

摘要

本发明公开了一种存储颗粒控制器的性能测试系统、测试方法及仿真平台，该测试方法包括：接收主机控制中心发送的闪存命令；采用闪存命令模拟存储颗粒控制器发送的控制命令，并将控制命令发送到存储颗粒模拟器，以操作存储颗粒模拟器中的待操作数据，存储颗粒模拟器用于模拟Flash存储颗粒在指定寿命周期的NAND存储特性对预设原始数据进行相应处理；接收存储颗粒模拟器返回的操作结果，按照所仿真的存储颗粒控制器的纠错模型对操作结果进行纠错处理并发送到主机控制中心，以确定纠错模型的性能。本发明不仅可以快速、高效地实现对存储颗粒控制器的性能测试，还能够高效、可控地实现特性以及异常场景的测试，极大提高了存储产品的性能和数据可靠性。

主权项

1.一种存储颗粒控制器的性能测试系统，其特征在于，所述系统包括主机控制中心、与所述主机控制中心连接的至少一个存储颗粒控制器仿真平台以及每一存储颗粒控制器仿真平台对应的至少一个存储颗粒模拟器；所述主机控制中心，用于向所述存储颗粒控制器仿真平台发送闪存命令，以及向所述存储颗粒模拟器发送配置信息；所述存储颗粒控制器仿真平台，用于采用所述闪存命令模拟存储颗粒控制器发送的控制命令，并将所述控制命令发送到所述存储颗粒模拟器；所述存储颗粒模拟器，用于根据主机控制中心下发的配置信息确定所述存储颗粒模拟器所模拟的Flash存储颗粒的寿命周期，以模拟Flash存储颗粒在指定寿命周期的NAND存储特性对预设原始数据进行相应处理，得到所述待操作数据，并根据存储颗粒控制器仿真平台发送的所述控制命令操作所述存储颗粒模拟器中的待操作数据；所述存储颗粒控制器仿真平台，还用于接收所述存储颗粒模拟器返回的操作结果，按照所仿真的存储颗粒控制器的纠错模型对所述操作结果进行纠错处理，并将纠错处理后的操作结果发送到主机控制中心；所述主机控制中心，还用于根据接收到的操作结果实现对所仿真的存储颗粒控制器的性能测试。