[发明专利]太赫兹源波长测量仪校准装置及方法在审
| 申请号： | 201811577098.1 | 申请日： | 2018-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN109506789A | 公开（公告）日： | 2019-03-22 |
| 发明（设计）人： | 解琪;李宏光;汪建刚;董再天;陈娟;赵俊成;王乐;刘瑞星 | 申请（专利权）人： | 西安应用光学研究所 |
| 主分类号： | G01J9/04 | 分类号： | G01J9/04 |
| 代理公司： | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人： | 陈星 |
| 地址： | 710065 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明出太赫兹源波长测量仪校准装置及方法，针对傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪和除傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪之外的其它类型的波长测量仪，采用相应的校准装置及方法进行校准，实现不同测量原理太赫兹源波长测量仪的校准。对应除傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪之外其它类型的太赫兹源波长测量仪，采用太赫兹标准频率源法对其进行校准；对应傅立叶变换型类型的太赫兹源波长测量仪，采用太赫兹特征波长标准器法对其进行校准；该校准方法解决了(0.1～5)THz波段范围内太赫兹源波长测量仪的校准难题，具有广阔的应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 太赫兹源 波长测量仪 校准 校准装置 波长测量 标准频率源 测量原理 特征波长 标准器 应用 | ||
【主权项】：
1.一种太赫兹源波长测量仪校准装置，其特征在于：针对非傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪，采用太赫兹标准频率源、准直光学系统和计算机进行波长参数校准；所述准直光学系统将接收到的太赫兹辐射先准直后聚焦至被校太赫兹源波长测量仪，准直光学系统中心和被校太赫兹源波长测量仪中心位于同一光轴上，太赫兹标准频率源位于准直光学系统焦点处；准直光学系统采用太赫兹透镜组或太赫兹抛物面镜组；计算机完成测量结果数据采集、处理和显示。
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