[发明专利]射频信号测试转接件、测试治具和射频信号测试系统有效

专利信息
申请号: 201811509487.0 申请日: 2018-12-11
公开(公告)号: CN109639371B 公开(公告)日: 2022-02-22
发明(设计)人: 刘云 申请(专利权)人: 华勤技术股份有限公司
主分类号: H04B17/15 分类号: H04B17/15;H04B17/29
代理公司: 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人: 戴莹瑛
地址: 201203 上海市浦东新区中*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明实施例涉及射频信号测试领域,公开了一种射频信号测试转接件、测试治具和射频信号测试系统。射频信号测试转接件包括:转接电路板;金属馈电区,设置在所述转接电路板上,用于与待测设备主板上的天线弹片弹性抵持;连接头,设置在所述转接电路板上,且与所述金属馈电区电性连接;所述连接头用于与信号测试装置上的测试接头进行对接。在实际请中,当需要检测待测设备主板的射频信号时,只需要将主板上的天线弹片与转接电路板上的金属馈电区抵持,就能够使主板与转接件之间电性连接,从而可不必在主板上焊接射频母头,因此会减少主板的制造工序,由于少了一道工序,并且不必在每一个主板上设置一个射频母头,因此主板的制造成本也会降低。
搜索关键词: 射频 信号 测试 转接 系统
【主权项】:
1.一种射频信号测试转接件,其特征在于,包括:转接电路板;金属馈电区,设置在所述转接电路板上,用于与待测设备主板上的天线弹片弹性抵持;连接头,设置在所述转接电路板上,且与所述金属馈电区电性连接;所述连接头用于与信号测试装置上的测试接头进行对接。
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