[发明专利]基于红外热像测试数据确定虚焊焊点特征频带的方法有效
申请号: | 201811457809.1 | 申请日: | 2018-11-30 |
公开(公告)号: | CN109581200B | 公开(公告)日: | 2021-03-26 |
发明(设计)人: | 徐丽霞;杨耀东;郭兴旺;周双锋;李大海;荣健;李晶;吕海青;谷振杰 | 申请(专利权)人: | 北京卫星制造厂有限公司 |
主分类号: | G01R31/309 | 分类号: | G01R31/309 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 张晓飞 |
地址: | 100190*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 基于红外热像测试数据确定虚焊焊点特征频带的方法,包括步骤如下:1)获取虚焊焊点受热源激励的过余温度时间曲线;2)将温度下降段对应的过余温度时间时间曲线进行傅里叶变换,得到温度下降段对应的相位频率曲线;3)重复上述步骤获取多个同一类型、同一尺寸虚焊焊点的相位频率曲线;4)将获得虚焊焊点与标准焊点的相位差频率曲线;5)根据特征频带条件确定测试对象的特征频带,作为判断产品是否存在虚焊焊点的标准。本发明采用脉冲相位法进行分析,有效提取焊点热特性本征信息,通过平均相位差确定虚焊焊点的特征频带,具有抗干扰能力强、信号分析简单的优点,解决了现有虚焊焊点热像测试数据与正常焊点测试数据难以区分的难题。 | ||
搜索关键词: | 基于 红外 测试数据 确定 虚焊焊点 特征 频带 方法 | ||
【主权项】:
1.基于红外热像测试数据确定虚焊焊点特征频带的方法,其特征在于,包括步骤如下:1)选取虚焊焊点作为测试对象,使用脉冲热源激励测试对象;2)采集测试对象表面在脉冲热源激励影响产生的温度变化,生成过余温度时间曲线;3)提取步骤2)温度变化曲线中温度下降段对应的过余温度时间曲线;将温度下降段对应的过余温度时间曲线进行傅里叶变换,得到温度下降段对应的相位‑频率曲线;4)选取多个同一类型、同一尺寸的虚焊焊点作为测试对象,重复步骤1)‑步骤3),获得多条温度下降段对应的相位‑频率曲线;5)将步骤4)获得的多条温度下降段对应的相位‑频率曲线分别与标准焊点的相位‑频率曲线进行比对,获得多条相位差‑频率曲线;6)根据特征频带条件和步骤5)获得的多条相位差‑频率曲线,确定测试对象的特征频带,作为用于判断产品是否存在与所述测试对象类型相同、尺寸相同虚焊焊点的标准。
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