[发明专利]一种适用星上设备的应力综合筛选试验方法在审
| 申请号： | 201811427512.0 | 申请日： | 2018-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN109540559A | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 高洁;孙逸帆;范宇飞;田文波;吴杰;柳宜川;刘骁 | 申请（专利权）人： | 上海航天计算机技术研究所 |
| 主分类号： | G01M99/00 | 分类号： | G01M99/00 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 201108 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种适用星上设备的应力综合筛选试验方法，应力综合为温度应力、机械振动应力和电应力的综合，应力综合筛选试验方法包括步骤：确认试件的质量等级、电装工艺是否符合上天飞行要求，若符合执行以下步骤；设置满足试件符合上天飞行要求的温度应力、机械振动应力和电应力；通过电应力对试件进行加电后，综合温度应力和机械振动应力对所述试件进行试验，以模拟满足符合上天飞行要求状态的试件在应力综合试验过程中是否发生故障。相对已有的试验项目，减少试验项目和试验周期，并同时提高试验筛选率1.3倍以上。 | ||
| 搜索关键词： | 试件 飞行要求 机械振动 筛选试验 温度应力 电应力 试验项目 星上设备 电装工艺 发生故障 确认试件 试验周期 综合试验 试验 加电 筛选 | ||
【主权项】：
1.一种适用星上设备的应力综合筛选试验方法，其特征在于，所述应力综合为温度应力、机械振动应力和电应力的综合，所述应力综合筛选试验方法包括步骤：确认试件的质量等级、电装工艺是否符合上天飞行要求，若符合执行以下步骤；设置满足试件符合上天飞行要求的温度应力、机械振动应力和电应力；通过电应力对所述试件进行加电后，综合温度应力和机械振动应力对所述试件进行试验，以模拟满足符合上天飞行要求状态的试件在应力综合试验过程中是否发生故障。
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