[发明专利]一种LED灯印制电路板的成品分割测试方法在审
| 申请号： | 201811418052.5 | 申请日： | 2018-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN109471018A | 公开（公告）日： | 2019-03-15 |
| 发明（设计）人： | 罗登峰;刘喜科;戴晖;蔡志浩 | 申请（专利权）人： | 梅州市志浩电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张春水;唐京桥 |
| 地址： | 514000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种LED灯印制电路板的成品分割测试方法，包括以下步骤：将所述LED灯印制电路板等分成多个区间，每个区间内的测试点数均小于等于测试机的最大允许测试点数；以其中含有最多测试点数的所述区间为参考制作测试针；利用所述测试针依次对每个所述区间进行测试。本发明实施例提供的一种LED灯印制电路板的成品分割测试方法，通过将待测试的LED灯印制电路板等分成多个区间，使得最大允许测试点数少于测试总点数的测试机仍能能够对其进行测试；更进一步的是，以其中含有最多测试点数的所述区间为参考制作测试针，使得所有区间能够共用该一个测试针，而无须制作多个测试针，取得了提高测试效率的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 印制电路板 测试点数 测试针 分割测试 测试 测试机 制作 测试效率 参考 总点数 | ||
【主权项】：
1.一种LED灯印制电路板的成品分割测试方法，其特征在于，包括以下步骤：将所述LED灯印制电路板等分成多个区间，每个区间内的测试点数均小于等于测试机的最大允许测试点数；以其中含有最多测试点数的所述区间为参考制作测试针；利用所述测试针依次对每个所述区间进行测试。
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