[发明专利]一种测试批次产品UART通讯兼容性的方法及装置有效
申请号: | 201811350998.2 | 申请日: | 2018-11-14 |
公开(公告)号: | CN109361567B | 公开(公告)日: | 2020-09-15 |
发明(设计)人: | 吕如茜 | 申请(专利权)人: | 北京中电华大电子设计有限责任公司 |
主分类号: | H04L12/26 | 分类号: | H04L12/26 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102209 北京市昌平区北七家镇未*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种测试批次产品UART通讯兼容性的方法及装置,属于通信领域的兼容性测试技术。所述方法的关键是根据芯片设计预期的批次产品内部时钟极限值(最大值和最小值),计算和配置测试设备可正常通讯的参数极值,对被测样品进行测试,测试通过,代表该批次产品的设计合理,预留裕量充分;如果测试失败,进一步分析被测样品的内部时钟是否符合预期,以及按照内部时钟值配置测试设备通讯参数,测试通讯是否正常。通过本方法可以大幅度降低抽测样品的数量,且评估结果更加准确。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 批次 产品 uart 通讯 兼容性 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种测试批次产品UART通讯兼容性的方法,其特征在于,该方法包括:步骤(1)根据芯片设计的时钟误差范围,按照批次产品内部时钟的设计预期极值(最大值或最小值),计算可以正常通讯的测试环境中的测试设备的通讯参数的极值;步骤(2)根据步骤(1)中的通讯参数配置测试设备,使用测试设备对被测样品进行UART通讯协议测试,记录测试结果;步骤(3)对步骤(2)中的测试结果进行分析,测试通过,表示该批次样品UART通讯兼容性测试通过;测试不通过,继续执行步骤(4);步骤(4)测量被测样品的内部时钟,如果不符合芯片设计预期,则该批次样品UART通讯兼容性测试不通过;如果符合芯片设计预期,则继续步骤(5);步骤(5)根据步骤(4)中获得的内部时钟值,调整测试设备通讯参数为可以与被测样品正常通讯的极值,使用测试设备对被测样品进行UART通讯协议测试,测试结果作为测试该批次产品UART通讯兼容性的结果。
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