[发明专利]单固定型故障低功耗测试方法有效

专利信息
申请号: 201811173764.5 申请日: 2018-10-09
公开(公告)号: CN109143039B 公开(公告)日: 2020-06-16
发明(设计)人: 向东 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王庆龙;苗晓静
地址: 100084 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供一种单固定型故障低功耗测试方法,该方法包括:建立扫描森林;将多路输出选择器驱动的相同的扫描链置于同一个扫描链子集中;并将被激活的扫描链子集置入确定测试信号;根据产生的测试集合获得测试集合对应的全部测试所需的本原多项式及附加变量,并根据本原多项式及附加变量生成用于控制SLFSR的控制向量;将控制向量移入SLFSR以将SLFSR配置成本原多项式连接的SLFSR;对SLFSR的确定测试信号进行编码;对编码后的确定测试信号进行压缩,并根据压缩后的确定测试信号对电路进行低功耗测试,获得测试结果。本发明实施例硬件开销低,降低能耗,更不会带来额外的延迟开销,便于工业界广泛使用。
搜索关键词: 固定 故障 功耗 测试 方法
【主权项】:
1.一种单固定型故障低功耗测试方法,其特征在于,包括:建立扫描森林,其中,所述扫描森林包括软件定义线性反馈移位寄存器SLFSR、相移器及多路输出选择器,所述SLFSR的输出端与所述相移器的输入端连接,所述相移器的每一级输出端驱动一个所述多路输出选择器,每个所述多路输出选择器用于驱动多个扫描树,每个所述扫描树包括多个扫描链;将所述多路输出选择器驱动的相同的所述扫描链置于同一个扫描链子集中,其中,所述扫描链子集中的所述扫描树均由相同的时钟信号驱动;并将被激活的所述扫描链子集置入确定测试信号;根据产生的测试集合获得所述测试集合对应的全部测试所需的本原多项式及附加变量,并根据所述本原多项式及附加变量生成用于控制所述SLFSR的控制向量;将所述控制向量移入所述SLFSR以将所述SLFSR配置成所述本原多项式连接的SLFSR;根据所述本原多项式和注入的附加变量对所述SLFSR的所述确定测试信号进行编码;对编码后的所述确定测试信号进行压缩,并根据压缩后的所述确定测试信号对电路进行低功耗测试,获得测试结果。
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